Metrologické systémy splňují požadavky našich zákazníků na rychlejší měření, snadné ovládání a vynikající přesnost.

• High-resolution 3D observation and measurement in real time
• "One click 3D" capture button
• Highly reliable fine surface profile measurement
• Fast and easy operation
• Repeatability
LEXT OLS3100

 Certified accuracy and repeatability
 High resolution (down to 120nm L&S)
 Outstanding slope detection capability
   (up to 85°)
 Roughness testing according
  
to all standards
 Advanced dual pinhole technology
  
for superior flexibility 
LEXT OLS4000

Mikroskopy
  Katalogy
Kde nakoupit
Porovnání produktů
Kontaktujte nás
Zpravodaj MIKROSKOP